Page 15 - System on Package_ Miniaturization of the Entire System
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Contents xiii
8 Mixed-Signal (SOP) Reliability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 443
8.1 System-Level Reliability Considerations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 445
8.1.1 Failure Mechanisms . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 446
8.1.2 Design-for-Reliability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 447
8.1.3 Reliability Verification . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 449
8.2 Reliability of Multifunction SOP Substrate . . . . . . . . . . . . . . . . . 450
8.2.1 Materials and Process Reliability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 450
8.2.2 Digital Function Reliability and Verification . . . . . . . . . . 458
8.2.3 RF Function Reliability and Verification . . . . . . . . . . . . . 461
8.2.4 Optical Function Reliability and Verification . . . . . . . . . 463
8.2.5 Multifunction System Reliability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 467
8.3 Substrate-to-IC Interconnection Reliability . . . . . . . . . . . . . . . . . 468
8.3.1 Factors Affecting the Substrate-to-IC
Interconnection Reliability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 469
8.3.2 100-μm Flip-Chip Assembly Reliability . . . . . . . . . . . . . . 471
8.3.3 Reliability against Die Cracking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 476
8.3.4 Solder Joint Reliability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 476
8.3.5 Interfacial Adhesion and Effect of Moisture
on Underfill Reliability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 478
8.4 Future Trends and Directions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 482
8.4.1 Extending Solder . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 483
8.4.2 Complaint Interconnects . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 484
8.4.3 Alternative to Solder and Nano Interconnects . . . . . . . . 484
8.5 Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 486
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 487
9 MEMS Packaging . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 495
9.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 496
9.2 Challenges in MEMS Packaging . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 496
9.3 Chip-Scale versus Wafer-Scale Packaging . . . . . . . . . . . . . . . . . . 497
9.4 Wafer Bonding Techniques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 499
9.4.1 Direct Bonding . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 500
9.4.2 Bonding Using Intermediate Layers . . . . . . . . . . . . . . . . 500
9.5 Sacrificial Film-Based Sealing Techniques . . . . . . . . . . . . . . . . . . 505
9.5.1 Etching the Sacrificial Material . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 505
9.5.2 Decomposition of Sacrificial Polymers . . . . . . . . . . . . . . 509
9.6 Low-Loss Polymer Encapsulation Techniques . . . . . . . . . . . . . . 514
9.7 Techniques Utilizing Getters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 516
9.7.1 Nonevaporable Getters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 516
9.7.2 Thin-Film Getters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 517
9.7.3 Improving MEMS Reliability through
Getters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 520
9.8 Interconnections . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 522
9.9 Assembly . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 524
9.10 Summary and Future Trends . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 527
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 528