Page 14 - Wire Bonding in Microelectronics
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Co n t e n t s    xiii


                          9.3.3. Low-Temperature Environment
                                 Interconnection Requirements   . . . . .   333
                          9.3.4.  Packaging Effects at Extreme
                                 Temperatures   . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   334
                          9.3.5.  Summary   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   335
                     Appendix 9A  Wire Bonder Looping   . . . . . . . . . . .   335
                          9A.1  Introduction   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   335
                          9A.2  Machine Motions and Trajectories   . . . .   336
                          9A.3  Loop Shaping   . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   338
                          9A.4  Prebending, Cold Work During
                                Looping Trajectory   . . . . . . . . . . . . . . .   338
                          9A.5  CSP and BGA Looping   . . . . . . . . . . . .   339
                          9A.6  Stacked Die and Multi-Chip
                                Packages   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   340
                          9A.6  Capillary Forming for Lower
                                Loops   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   341
                          9A.7  Capillary Shape and Its Effect on
                                Drag/Friction   . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   341
                          9A.8  Role of Wire   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   342
                          9A.9  Ball and Stud Bumping   . . . . . . . . . . .   342
                         9A.10  Stiffness—Young’s modulus   . . . . . . .   345
                     References    . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   345

               10  An Overview of the Materials and Material
                   Science of Copper, Low-k Devices that Affect
                   Bonding and Packaging   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   349
                     10.1  Introduction    . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   349
                     10.2  The Cu/Lo-k Technology   . . . . . . . . . . . . . . . .   350
                          10.2.1  The Lo-k Dielectrics   . . . . . . . . . . . . .   353
                          10.2.2  Top Surface Protective and
                                  Bondability Coatings for Copper
                                  Bond Pads   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   356
                     10.3  Wire Bonding to Integrated Circuits with
                           Copper Bond Pads over Lo-k Material   . . . .   358
                          10.3.1  Lo-k Flip Chip Damage   . . . . . . . . . .   362
                     10.4  Conclusions   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   362
                     References    . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   363

               11  Wire Bonding Process Modeling
                   and Simulation    . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   365
                     11.1  Introduction   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   365
                     11.2  Assumption, Material Properties, and
                           Method of Analysis   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   367
                     11.3  Wire Bonding Process with Different
                           Parameters [11-10]   . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .   368
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